Отчет по лабораторной работе «Исследование дискретной следящей системы»

Цель работы: Исследование моделей дискретных радиоэлектронных следящих систем, анализ характеристик переходного и установившегося режимов работы, анализ устойчивости по переходным характеристикам замкнутых систем, годографу, ЛАЧХ и ЛФЧХ разомкнутых систем.

1. Исследование статической линейной системы (ЧАП).
Звено 2.

С ростом k и уменьшением Т уменьшается Туст.
1.1. Исследование устойчивости и запасов устойчивости по фазе и амплитуде.

С ростом k уменьшается запас устойчивости по амплитуде и фазе, а критическая частота не изменяется. При уменьшении Т увеличивается запас устойчивости по амплитуде и критическая частота, а запас устойчивости по фазе не изменяется и равняется бесконечности.
1.2. Исследование точности слежения.

С ростом k уменьшается точность слежения по положению, по скорости и по ускорению. При уменьшении Т точность слежения по положению не изменяется, а по скорости и ускорению уменьшается.
2. Исследование системы ФАПЧ с астатизмом 1-го порядка.

Туст увеличивается с ростом k, Т и Т1.
2.1. Исследование устойчивости и запасов устойчивости по фазе и амплитуде.

С ростом k уменьшается запас устойчивости по амплитуде, увеличивается запас устойчивости по фазе и частота среза, а критическая частота остаётся неизменной.
При увеличении Т уменьшается запас устойчивости по амплитуде и фазе, критическая частота, увеличивается частота среза.
С ростом Т1 уменьшается запас устойчивости по амплитуде, а частота среза увеличивается.
2.2. Исследование точности слежения.

С ростом k уменьшается точность слежения по скорости и ускорению.
При увеличении Т увеличивается точность слежения по скорости и ускорению.
С ростом Т1 увеличивается точность слежения по скорости и ускорению.
3. Исследование системы ФАПЧ с астатизмом 2-го порядка.

Туст увеличивается с ростом k, Т, Т1 и уменьшением Т2.
3.1. Исследование устойчивости и запасов устойчивости по фазе и амплитуде.

С ростом k уменьшается запас устойчивости по амплитуде и фазе, увеличивается частота среза, а критическая частота остаётся неизменной.
При увеличении Т уменьшается запас устойчивости по амплитуде и фазе, критическая частота, увеличивается частота среза.
С ростом Т1 и уменьшением Т2 уменьшается запас устойчивости по амплитуде и фазе, критическая частота, частота среза.
3.2. Исследование точности слежения.

Точность слежения увеличивается только при увеличении Т.